基于扫描探针显微技术的先进材料局部多场耦合现象探究
2019.01.02
投稿:谢姚部门:机电工程与自动化学院浏览次数:
活动信息
时间: 2019年01月09日 14:00
地点: 校本部东区9号楼1002A
报告题目:Probing of Local Multifield Coupling Phenomena of Advanced Materials by Scanning Probe Microscopy Techniques
报告人:Zeng Kaiyang Department of Mechanical Engineering,National University of Singapore