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英国牛津仪器EBSD技术专家Singh Ubhi博士来测试中心开设讲座

Created Date 11/18/2010 剑超   View Numbers  5753 Return    字号:    

        11月16日上午,在延长校区环化楼会议室,测试中心邀请到了牛津仪器公司EBSD技术专家Singh Ubhi博士以及应用支持专家焦汇胜博士,给大家做了一堂精彩的技术交流会。

       电子背散射衍射(Electron Backscattered Diffraction,简称EBSD)探头安装在扫描电镜(SEM)上,通过获取晶体的背散射电子信息来分析晶体结构及微区取向,是进行显微织构分析、获取界面参数以及研究材料塑性形变等方面的有力工具。Singh Ubhi博士从对样品的要求、样品的制备方法开始深入浅出,例举了很多精彩的实例。巧妙的制样方法、漂亮的显微电子图片以及严谨周密的理论分析,让在座的师生对EBSD技术有了更深刻的理解,受益匪浅。会后还进行了长达一个小时的答疑交流。

       为方便学校师生进行EBSD方面的研究,测试中心购置了英国OXFORD公司的高速EBSD探头,安装在CamScan Apollo 300热场发射扫描电镜上,已于2010年3月1日开始接受预约测试服务(http://fxcszx.shu.edu.cn/),欢迎校内外用户前来使用。

附:Singh Ubhi博士的论文以及PPT

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